近日，美國(guó)泰克公司*新推出了TEK-PGY-ONFI軟件完善了泰克為其他內(nèi)存技術(shù)提供的全面解決方案，包括eMMC, UFS和DDRA。

        日前為開放的NAND閃存接口(ONFI)標(biāo)準(zhǔn)推出業(yè)內(nèi)*個(gè)測(cè)試解決方案。ONFI 4.0測(cè)試解決方案適用于泰克高性能示波器，包括在ONFI總線上分析DDR2/3模式的軟件，以及基于插補(bǔ)器 (Interposers)的高效探測(cè)解決方案。

        ONFI標(biāo)準(zhǔn)由ONFI工作組發(fā)布，旨在簡(jiǎn)便于把NAND閃存整合到消費(fèi)電子和計(jì)算平臺(tái)中。ONFI 4.0規(guī)范引入不斷進(jìn)化的NV-DDR3接口，其工作電壓為VccQ = 1.2V，不僅提高了性能，還改善了功耗，并把NV-DDR2和NV-DDR3 I/O速度擴(kuò)展到667 MT/s和800 MT/s，增加了ZQ校準(zhǔn)功能。

        由于速度提高和電壓下降，處理ONFI總線的設(shè)計(jì)人員面臨著諸多挑戰(zhàn)，如保證一致性，調(diào)試定時(shí)問(wèn)題，獲得信號(hào)。通過(guò)TEK-PGY-ONFI軟件，設(shè)計(jì)和測(cè)試工程師可以測(cè)試ONFI接口是否滿足ONFI總線定時(shí)參數(shù)，并自動(dòng)測(cè)量Command、Address、Data in和Data out業(yè)務(wù)。TEK-PGY-ONFI軟件中的細(xì)節(jié)視圖功能通過(guò)進(jìn)行標(biāo)注，把ONFI波形的每個(gè)電氣測(cè)量指標(biāo)與模擬波形關(guān)聯(lián)起來(lái)，幫助用戶調(diào)試定時(shí)問(wèn)題。

        密集封裝和高數(shù)據(jù)速率給NAND閃存器件中的高保真信號(hào)接入帶來(lái)了挑戰(zhàn)。泰克支持各種不同的機(jī)械外形，包括帶有插口的探頭設(shè)計(jì)、直接連接探頭設(shè)計(jì)、已獲專利的邊緣探頭設(shè)計(jì)，可以滿足異常緊張的機(jī)械要求。其提供了插補(bǔ)器 (Interposers)和探頭S參數(shù)模型，用于建模或生成應(yīng)用到示波器中的反嵌濾波器。

        TEK-PGY-ONFI軟件在帶寬為4GHz -33GHz的泰克MSO/DPO70000系列示波器上運(yùn)行，推薦在測(cè)試中使用P7500或P7300系列探頭。有些客戶在進(jìn)行ONFI測(cè)試時(shí)，可能很難或根本不能接入信號(hào)，因此泰克推薦使用Nexus開發(fā)的ONFI 152球形NAND Flash Edge高保真插補(bǔ)器 (Interposers)，實(shí)現(xiàn)信號(hào)接入，同時(shí)保持信號(hào)完整性。

        “這種ONFI測(cè)試解決方案為客戶提供了所需的洞察力，使他們能夠更快、更加滿懷信心地把基于內(nèi)存的產(chǎn)品推向市場(chǎng)。”泰克科技公司高性能示波器總經(jīng)理Brian Reich說(shuō)，“與手動(dòng)測(cè)試相比，這一解決方案明顯縮短了一致性測(cè)試時(shí)間，簡(jiǎn)化了調(diào)試工作，*終提升了生產(chǎn)效率。”